WAT（Wafer Acceptance Test）测试，也叫PCM（Process Control Monitoring），对Wafer 划片槽（Scribe Line）测试键（Test Key）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定. 例如CMOS的电容，电阻， Contact，Metal Line 等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的 ...

史陶比尔集团（ 英文名：Staubli ）创立于1892年（总部位于瑞士），创立于1892年，史陶比尔集团有着100多年的发展历史，是一家在纺织机械，工业快速接头和工业机器人三大领域*地位的世界企业。 瑞士史陶比尔Staubli单接头、组合接头、惰性气体用快速接头*百 ...

射频探针是我们在片测试时必不可少的工具，自从上次展会结束后，我发现对很多东西看似熟悉实则很陌生。今天来简单学习下探针相关的知识。 RF Probes 历史 1980年，在Tektronix工作的Reed Gleason与Eric Strid合作发明了第一台高频晶圆探针，并于1983年联合创办了Cascade ...